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中文名称:场发射扫描电子显微镜

英文名称:Field Emission Scanning Electron Microscope

产品型号:JSM-IT800

生产厂家:日本电子株式会社(JEOL)

附    件:X射线能谱仪

附件厂家:英国牛津仪器公司(Oxford)

 

 

主要技术指标:

1 分辨率:0.5 nm@15kV,0.7 nm@1kV;0.9 nm@500V

2 加速电压:0.01kV~30kV

3 底片放大倍数:10~200万倍

4 Z大束流值:500nA

 

 

主要用途:

该仪器具有超高分辨率,能对各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。配备有高性能X射线能谱仪系统,能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。

广泛用于材料、机械、物理、化学化工、生物、医学、药学、食品、环境、能源、地质矿物等领域的研究及产品分析,可以观察和分析上述微米、纳米级样品的表面特征,是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。