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中文名称：场发射扫描电子显微镜
英文名称：Field Emission Scanning Electron Microscope
产品型号：JSM-IT800
生产厂家：日本电子株式会社（JEOL）
附 件：X射线能谱仪
附件厂家：英国牛津仪器公司（Oxford）
主要技术指标：
1 分辨率：0.5 nm@15kV，0.7 nm@1kV；0.9 nm@500V
2 加速电压：0.01kV~30kV
3 底片放大倍数：10~200万倍
4 最大束流值：500nA
主要用途：
该仪器具有超高分辨率，能对各种固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。配备有高性能X射线能谱仪系统，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。
广泛用于材料、机械、物理、化学化工、生物、医学、药学、食品、环境、能源、地质矿物等领域的研究及产品分析，可以观察和分析上述微米、纳米级样品的表面特征，是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。